Современная наука для изучения поверхности низкоразмерных образцов использует микроскопы, в основе работы которых лежат различные физические процессы. В наиболее общем случае микроскопию подразделяют на три большие группы: оптическую, электронную и сканирующую зондовую. Первым микроскопом был оптический - тот самый, с которым большинство из нас имело возможность познакомиться на школьных уроках биологии. В основе работы оптического микроскопа лежат следующие физические процессы: дифракция, отражение и преломление электромагнитного излучения (света) при взаимодействии с исследуемым объектом и последующая регистрация излучения для построения изображения. Минимальный размер образца, изображение которого можно получить, при этом определяется разрешающей способностью микроскопа, то есть длиной волны излучения. Такой минимальный размер образца называется дифракционным пределом и, кроме длины волны света, зависит так же от показателя преломления среды и угла падения. Диапазон видимого с