Запутывающая сила и её отклонение: количественный анализ зависимости от входного состояния и вариативности в генерации запутывания
В квантовой информатике традиционно измеряют способность квантовых операций создавать запутывание с помощью показателя «мощность запутывания» (EP). Однако этот показатель не учитывает зависимость от входных состояний. Для более полного анализа вводится новый метрический показатель — «отклонение мощности запутывания» (EPD), который отражает разброс в создании запутывания при разных входных состояниях. Исследование показывает, что усиление способности к запутыванию неизбежно увеличивает чувствительность к определённым входным состояниям, а также выявляет особенности генерации запутывания в зависимости от физической реализации операций.
arXiv: 2508.00301
