Найти в Дзене
Sayunov
5 подписчиков

СИСТЕМЫ ФОТОМЕТРИРОВАНИЯ ОСВЕТИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ

85
2 мин
Представленные на рынке гониофотометры среди всего прочего отличаются реализуемыми в них системами фотометрирования. Зачастую, в одном гониофотометре реализована одна система фотометрирования, как правило, это система С-γ. Однако, например, у Everfine в линейке GO-2000 помимо неё так же возможно измерение в системе В-β.
В процессе работы может возникнуть ситуация, когда из-за особенностей

Представленные на рынке гониофотометры среди всего прочего отличаются реализуемыми в них системами фотометрирования. Зачастую, в одном гониофотометре реализована одна система фотометрирования, как правило, это система С-γ. Однако, например, у Everfine в линейке GO-2000 помимо неё так же возможно измерение в системе В-β.

В процессе работы может возникнуть ситуация, когда из-за особенностей конструкции светильника его крепление на гониофотометре возможно только в положении, соответствующем системе фотометрирования, отличной от реализованной по умолчанию. В таком случае необходимо понимать, в какой системе проводится измерение и при необходимости перевести данные в другую систему фотометрирования. Соотношения между углами систем фотометрирования приведены в таблице 1.

Таблица 1 – Соотношения между углами систем фотометрирования.
Таблица 1 – Соотношения между углами систем фотометрирования.

При анализе и сопоставлении полученных данных о распределении силы света осветительного прибора (далее – ОП) важно обратить внимание на выбранную при измерении систему фотометрирования.

В соответствии с ГОСТ Р 55392-2012 «Приборы и комплексы осветительные. Термины и определения» система фотометрирования ОП - это система координатных полуплоскостей в полярной (сферической) системе координат, центр и полярная ось которой совмещены соответственно с фотометрическим центром и одной из главных осей ОП.

В зависимости от того, какая из осей ОП совмещена с полярной осью системы фотометрирования различают системы С-γ, В-β и А-α, они представлены на рисунке 1:

Рисунок 1 – Системы фотометрирования: а) С-γ, б) В-β, в) А-α.
Рисунок 1 – Системы фотометрирования: а) С-γ, б) В-β, в) А-α.

Во всех трех системах фотометрирования центр вращения гониофотометрической системы совмещен с фотометрическим центром ОП. Расположение фотометрического центра ОП зависит от его конструкции и приведено на рисунке 2:

Рисунок 2 – Положение фотометрического центра осветительных приборов по ГОСТ Р 54350-2015, где: х - положение фотометрического центра; а - зеркальный отражатель, выходное отверстие открыто или с прозрачным рассеивателем; б - то же, отражение с рассеянием; в - рассеиватель плоский матированный или призматический; г, д - то же, рассеиватель выпуклый; е - отражатель и решетка зеркальные; ж - рассеиватель прозрачный; и - светодиодный светильник плоский открытый; к - то же, с матированным или призматическим рассеивателем; л - светильник с объемно расположенными светодиодами
Рисунок 2 – Положение фотометрического центра осветительных приборов по ГОСТ Р 54350-2015, где: х - положение фотометрического центра; а - зеркальный отражатель, выходное отверстие открыто или с прозрачным рассеивателем; б - то же, отражение с рассеянием; в - рассеиватель плоский матированный или призматический; г, д - то же, рассеиватель выпуклый; е - отражатель и решетка зеркальные; ж - рассеиватель прозрачный; и - светодиодный светильник плоский открытый; к - то же, с матированным или призматическим рассеивателем; л - светильник с объемно расположенными светодиодами

Различаются системы фотометрирования положением ОП относительно полярной оси гониофотометрической системы, которой является линия пересечения полуплоскостей фотометрирования. С полярной осью гониофотометрической системы совмещена:

  • оптическая ось ОП в системе С-γ;
  • продольная ось ОП в системе В-β;
  • поперечная ось ОП в системе А-α.

В соответствии с ГОСТ Р 54350-2015 гониофотометр должен обеспечивать измерение силы света ОП по одной из предложенных систем фотометриования.

При этом в соответствии с тем же документом желательно, чтобы при измерении светильник сохранял рабочее неподвижное положение. Отклонения от рабочего положения допускаются с поправкой на изменение светотехнических характеристик, вызванное этими отклонениями. В статье «Исследование степени влияния положения светодиодного светильника на его световой поток» журнала Полупроводниковая светотехника 2014 год, №31 (нужно вставить ссылку, не могу найти статью) показано, каким образом можно учесть это влияние, а так же то, что оно вызывает изменения силы света не более 5%.

Источник